Diffractométrie X (n. f.) ; en anglais X-ray diffraction : Cette technique, basée sur des réflexions en phase (réfractions) de rayons X, permet de mesurer les distances entre les plans réticulaires des cristaux et, par voie de conséquence, d'identifier leur nature.

Diffractogramme X (n. m.) ; en anglais X-ray diffractogram :

Diffractomètre X (n. m.) ; en anglais X-ray diffractometer :